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Area della Ricerca di Padova
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Spettrometria di massa di ioni secondari : aspetti strumentali ed applicazioni nei campi inorganico, organico e biologico : atti del Convegno Padova SIMS 88 /
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Authors:
Benninghoven, A.
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Daolio, Sergio
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Pagura, Cesare
Physical details: IV, 191 p., ill., 24 cm.
Subject(s):
Congressi
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Spettrometria di massa
Year : 1990
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| Item type | Location | Call Number | Copy | Status | Notes | Date Due |
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| Books | Istituto di chimica e tecnologie inorganiche e dei materiali avanzati | sez. congressi (Browse Shelf) | 1 | Available | Biblioteca |
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